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BS EN 60947-4-3:2014 Low-voltage switchgear and controlgear - Contactors and motor-starters. AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads, 2014
- 30275316-VOR.pdf [Go to Page]
- Annex ZZ (informative) Coverage of Essential Requirements of EU Directives
- 30302302-VOR.pdf [Go to Page]
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- INTRODUCTION
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms, definitions, symbols and abbreviations [Go to Page]
- 3.1 Terms and definitions concerning a.c. semiconductor (non-motor-load) control devices [Go to Page]
- 3.1.1 AC semiconductor controllers and contactors (solid-state contactors) (see Figure 1)
- 3.1.2 Hybrid controllers and contactors (see Figure 1)
- 3.2 Vacant
- 3.3 Symbols and abbreviations
- 4 Classification
- 5 Characteristics of a.c. semiconductor controllers and contactors [Go to Page]
- 5.1 Summary of characteristics
- 5.2 Type of equipment
- 5.3 Rated and limiting values for main circuits [Go to Page]
- 5.3.1 Rated voltages
- 5.3.2 Currents
- 5.3.3 Rated frequency
- 5.3.4 Rated duty
- 5.3.5 Normal load and overload characteristics
- 5.3.6 Rated conditional short-circuit current
- 5.4 Utilization category [Go to Page]
- 5.4.1 Assignment of ratings based on the results of tests
- 5.5 Control circuits
- 5.6 Auxiliary circuits
- 5.7 Vacant
- 5.8 Coordination with short-circuit protective devices (SCPD)
- 6 Product information [Go to Page]
- 6.1 Nature of information
- 6.2 Marking
- 6.3 Instructions for installation, operation and maintenance
- 7 Normal service, mounting and transport conditions [Go to Page]
- 7.1 Normal service conditions [Go to Page]
- 7.1.1 Ambient air temperature
- 7.1.2 Altitude
- 7.1.3 Atmospheric conditions
- 7.1.4 Shock and vibrations
- 7.2 Conditions during transport and storage
- 7.3 Mounting
- 7.4 Electrical system disturbances and influences
- 8 Constructional and performance requirements [Go to Page]
- 8.1 Constructional requirements [Go to Page]
- 8.1.1 General
- 8.1.2 Materials
- 8.1.3 Current-carrying parts and their connections
- 8.1.4 Clearances and creepage distances
- 8.1.5 Actuator
- 8.1.6 Indication of the contact position
- 8.1.7 Additional requirements for equipment suitable for isolation
- 8.1.8 Terminals
- 8.1.9 Additional requirements for equipment provided with a neutral pole
- 8.1.10 Provisions for protective earthing
- 8.1.11 Enclosures for equipment
- 8.1.12 Degrees of protection of enclosed equipment
- 8.1.13 Conduit pull-out, torque and bending with metallic conduits
- 8.2 Performance requirements [Go to Page]
- 8.2.1 Operating conditions
- 8.2.2 Temperature rise
- 8.2.3 Dielectric properties
- 8.2.4 Normal load and overload performance requirements
- 8.2.5 Coordination with short-circuit protective devices
- 8.3 EMC requirements [Go to Page]
- 8.3.1 General
- 8.3.2 Emission
- 8.3.3 Immunity
- 9 Tests [Go to Page]
- 9.1 Kinds of tests [Go to Page]
- 9.1.1 General
- 9.1.2 Type tests
- 9.1.3 Routine tests
- 9.1.4 Sampling tests
- 9.1.5 Special tests
- 9.2 Compliance with constructional requirements
- 9.3 Compliance with performance requirements [Go to Page]
- 9.3.1 Test sequences
- 9.3.2 General test conditions
- 9.3.3 Performance under no load, normal load and overload conditions
- 9.3.4 Performance under short-circuit conditions
- 9.3.5 Disponible
- 9.4 General [Go to Page]
- 9.4.1 EMC emission tests
- 9.4.2 EMC immunity tests
- 9.5 Routine and sampling tests [Go to Page]
- 9.5.1 General
- 9.5.2 Operation and operating limits
- 9.5.3 Dielectric tests
- Annex A (normative) Marking and identification of terminals [Go to Page]
- A.1 General
- A.2 Marking and identification of terminals of controller and contactors [Go to Page]
- A.2.1 Marking and identification of terminals of main circuits
- A.2.2 Marking and identification of terminals of control circuits
- A.2.3 Marking and identification of auxiliary circuits
- Annex B (informative) Typical service conditions for controllers and contactors [Go to Page]
- B.1 Control of resistive heating elements
- B.2 Switching of electric discharge lamp controls
- B.3 Switching of incandescent lamps
- B.4 Switching of transformers
- B.5 Switching of capacitor banks
- Annex C Vacant
- Annex D Vacant
- Annex E Vacant
- Annex F (informative) Operating capability
- Annex G Vacant
- Annex H Vacant
- Annex I (normative) Modified test circuit for short-circuit testingof semiconductor contactors and controllers
- Annex J (informative) Flowchart for constructing bypassed semiconductor controllers tests
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Graphical possibilities of controllers
- Figure 2 – Methods of connecting
- Figure F.1 – Thermal stability test profile
- Figure F.2 – Overload capability test profile
- Figure F.3 – Blocking and commutating capability test profile
- Figure I.1 – Modified circuit for short-circuit testing of semiconductor devices
- Figure I.2 – Time line for the short-circuit test of 9.3.4.1.6
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Functional possibilities of controllers and contactors
- Table 2 – Utilization categories
- Table 3 – Relative levels of severity
- Table 4 – Temperature rise limits for insulated coils in air and in oil
- Table 5 – Intermittent duty test cycle data
- Table 6 – Minimum overload current withstand time (Tx) in relation to overload current ratio (X)
- Table 7 ( Minimum requirements for thermal stability test conditions
- Table 8 – Minimum requirements for overload capability test conditions
- Table 9 – Minimum requirements and conditions for performance testing, including blocking and commutating capability
- Table 10 – Making and breaking capacity test – Making and breaking conditions according to utilization categories for the mechanical switching device of hybrid semiconductor controller and contactor H4, H5
- Table 11 – Conventional operational performance – Making and breaking conditions according to utilization categories for the mechanical switching device of hybrid controllers and contactors H4B, H5B
- Table 12 – Specific performance criteria when EM disturbances are present
- Table 13 – Thermal stability test specifications
- Table 14 – Initial case temperature requirements
- Table 15 – Terminal disturbance voltage limits for conducted radiofrequency emission
- Table 16 – Radiated emissions test limits
- Table A.1 – Main circuit terminal markings
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- INTRODUCTION
- 1 Domaine d'application
- 2 Références normatives
- 3 Termes, définitions, symboles et abréviations [Go to Page]
- 3.1 Termes et définitions concernant les appareils de commande à semiconducteurs (pour des charges autres que des moteurs) pour courant alternatif [Go to Page]
- 3.1.1 Gradateurs et contacteurs à semiconducteurs (contacteurs statiques) pour courant alternatif (voir Figure 1)
- 3.1.2 Gradateurs et contacteurs hybrides (voir Figure 1)
- 3.2 Disponible
- 3.3 Symboles et abréviations
- 4 Classification
- 5 Caractéristiques des gradateurs et contacteurs à semiconducteurs à courant alternatif [Go to Page]
- 5.1 Enumération des caractéristiques
- 5.2 Type du matériel
- 5.3 Valeurs assignées et valeurs limites des circuits principaux [Go to Page]
- 5.3.1 Tensions assignées
- 5.3.2 Courants
- 5.3.3 Fréquence assignée
- 5.3.4 Service assigné
- 5.3.5 Caractéristiques en conditions normales de charge et de surcharge
- 5.3.6 Courant assigné de court-circuit conditionnel
- 5.4 Catégories d’emploi [Go to Page]
- 5.4.1 Attribution des caractéristiques assignées suivant les résultats d’essais
- 5.5 Circuits de commande
- 5.6 Circuits auxiliaires
- 5.7 Disponible
- 5.8 Coordination avec les dispositifs de protection contre les courts-circuits (DPCC)
- 6 Information sur le matériel [Go to Page]
- 6.1 Nature des informations
- 6.2 Marquage
- 6.3 Instructions d’installation, de fonctionnement et d’entretien
- 7 Conditions normales de service, de montage et de transport [Go to Page]
- 7.1 Conditions normales de service [Go to Page]
- 7.1.1 Température de l’air ambiant
- 7.1.2 Altitude
- 7.1.3 Conditions atmosphériques
- 7.1.4 Chocs et vibrations
- 7.2 Conditions pendant le transport et le stockage
- 7.3 Montage
- 7.4 Perturbations du réseau électrique et influences
- 8 Dispositions relatives à la construction et au fonctionnement [Go to Page]
- 8.1 Dispositions constructives [Go to Page]
- 8.1.1 Généralités
- 8.1.2 Matériaux
- 8.1.3 Parties transportant le courant et leurs connexions
- 8.1.4 Distances d’isolement et lignes de fuite
- 8.1.5 Organe de commande
- 8.1.6 Indication de la position des contacts
- 8.1.7 Exigences supplémentaires pour les matériels aptes au sectionnement
- 8.1.8 Bornes
- 8.1.9 Exigences supplémentaires pour les matériels dotés d'un pôle neutre
- 8.1.10 Dispositions pour assurer la mise à la terre de protection
- 8.1.11 Enveloppes pour matériels
- 8.1.12 Degrés de protection du matériel sous enveloppe
- 8.1.13 Traction, torsion et flexion avec des conduits métalliques
- 8.2 Dispositions relatives au fonctionnement [Go to Page]
- 8.2.1 Conditions de fonctionnement
- 8.2.2 Echauffement
- 8.2.3 Propriétés diélectriques
- 8.2.4 Exigences de fonctionnement dans des conditions normales de charge et de surcharge
- 8.2.5 Coordination avec dispositif de protection contre les courts-circuits
- 8.3 Exigences concernant la CEM [Go to Page]
- 8.3.1 Généralités
- 8.3.2 Emission
- 8.3.3 Immunité
- 9 Essais [Go to Page]
- 9.1 Nature des essais [Go to Page]
- 9.1.1 Généralités
- 9.1.2 Essais de type
- 9.1.3 Essais individuels
- 9.1.4 Essais sur prélèvement
- 9.1.5 Essais spéciaux
- 9.2 Conformité aux dispositions relatives à la construction
- 9.3 Conformité aux exigences relatives au fonctionnement [Go to Page]
- 9.3.1 Séquences d’essais
- 9.3.2 Conditions générales d’essai
- 9.3.3 Fonctionnement à vide, dans les conditions normales de charge et dans les conditions de surcharge
- 9.3.4 Fonctionnement dans des conditions de court-circuit
- 9.3.5 Disponible
- 9.4 Essais CEM [Go to Page]
- 9.4.1 Essais d'émission CEM
- 9.4.2 Essais d'immunité CEM
- 9.5 Essais individuels et par prélèvement [Go to Page]
- 9.5.1 Généralités
- 9.5.2 Fonctionnement et limites de fonctionnement
- 9.5.3 Essais diélectriques
- Annexe A (normative)Marquage et identification des bornes
- Annexe B (informative) Conditions de service typique pour les gradateurs et contacteurs
- Annexe C Disponible
- Annexe D Disponible
- Annexe E Disponible
- Annexe F (informative)Aptitude au fonctionnement
- Annexe G Disponible
- Annexe H Disponible
- Annexe I (normative) Circuit d’essai modifié pour l’essai de court-circuitdes contacteurs et gradateurs à semiconducteurs
- Annexe J (informative) Diagramme pour définir les essais des gradateurs à semiconducteurs à dérivation
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Représentations graphiques des gradateurs
- Figure 2 – Méthodes de connexion
- Figure F.1 – Profil d'essai de stabilité thermique
- Figure F.2 – Profil d'essai de capacité de surcharge
- Figure F.3 – Profil d'essai de capacité de blocage et d'aptitude à la commutation
- Figure I.1 – Circuit modifié pour l’essai de court-circuit des appareils à semiconducteurs
- Figure I.2 – Chronologie pour l’essai de court-circuit de 9.3.4.1.6
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Fonctions possibles des gradateurs et contacteurs
- Tableau 2 – Catégories d’emploi
- Tableau 3 – Niveaux de sévérité relatifs
- Tableau 4 – Limites d’échauffement pour les bobines isoléesdans l’air et dans l’huile
- Tableau 5 – Données pour les cycles d’essai de service intermittent
- Tableau 6 – Durée minimale (Tx) de tenue au courant de surcharge en fonction du rapport (X) du courant de surcharge
- Tableau 7 – Exigences minimales pour les conditions d’essai de stabilité thermique
- Tableau 8 – Exigences minimales pour les conditionsd’essai de tenue aux surcharges
- Tableau 9 – Exigences minimales et conditions pour les essais de fonctionnement, y compris l’aptitude au blocage et à la commutation
- Tableau 10 – Essai de fermeture et de coupure – Conditions d’établissement et de coupure selon les catégories d’emploi pour les dispositifs mécaniques de connexion de gradateur et contacteur hybride H4, H5
- Tableau 11 – Essai de fonctionnement conventionnel – Conditions d’établissement et de coupure selon les catégories d’emploi pour les dispositifs mécaniques de connexion des gradateurs et contacteurs H4B, H5B
- Tableau 12 – Critères de comportement spécifiques en présence de perturbations électromagnétiques
- Tableau 13 – Spécifications d'essai pour la stabilité thermique
- Tableau 14 – Exigences de température initiale du boîtier
- Tableau 15 – Limites de perturbation en tension sur les bornes pour les émissions conduites aux fréquences radioélectriques
- Tableau 16 – Limites d'essai d'émissions rayonnées
- Tableau A.1 – Marquages des bornes des circuits principaux [Go to Page]